。 SE400advanced能夠分析單層膜，多層膜和大塊材料(基底)

• 超高精度和穩(wěn)定性，來源于高穩(wěn)定激光光源

、溫度穩(wěn)定補(bǔ)償器設(shè)置、起偏器跟蹤和超低噪聲探測(cè)器

• 高精度樣品校準(zhǔn)，使用光學(xué)自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)鏡和顯微鏡

• 快速簡(jiǎn)易測(cè)量

，可選擇不同的應(yīng)用模型和入射角度

• 多角度測(cè)量

，可完全支持復(fù)雜應(yīng)用和*準(zhǔn)厚度

• 全方面的預(yù)設(shè)應(yīng)用，包含微電子

、光電、磁存儲(chǔ)、生命科學(xué)等領(lǐng)域

規(guī)格:

• 激光波長(zhǎng)632.8 nm

• 150 mm (z-tilt) 載物臺(tái)

• 入射角度可調(diào)，步進(jìn)5º

• 自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)鏡/顯微鏡

，用于樣品校準(zhǔn)

• Small footprint

• 以太網(wǎng)接口連接到PC

SE 400advanced軟件特征:

• 預(yù)先定義應(yīng)用

• 多角度測(cè)量

• 廣泛的材料數(shù)據(jù)庫(kù)

• 擬合狀況的圖形反饋

• 支持多種語(yǔ)言

代表型號(hào)：SI500

、SI500PPD、SE400advanced、SE500advanced、SE 900-50、SENDURO、SENresearch